DSP-STC2258型多功能数字式四探针测试仪

DSP-STC2258型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。DSP-STC2258型多功能数字式四探针测试仪符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。


机械特性


DSP-STC2258型多功能数字式四探针测试仪

一、概述

     DSP-STC2258型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。 

仪器成套组成由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。 

主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入具有零位、满度自校功能电压电流全自动转换量程测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类功能,大分类10类。 

探头选配根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头,也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。 

测试台选配一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选SZT-K型测试台,也可选配SZT-D型测试台以测试半导体粉末电阻率选配SZT-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》 

仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。

仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。  

二、基本技术参数

1.测量范围、分辨率(括号内为可向下拓展1个数量级) 
  电阻:10.0×10-6~200.0×103Ω,分辨率:1.0×10-6~0.1×103Ω 
     (1.0×10-6~20.00×103Ω,分辨率:0.1×10-6~0.01×103Ω)
  电阻率:10.0×10-6~200.0×103Ω-cm,分辨率:1.0×10-6~0.1×103Ω-cm

     (1.0×10-6~20.00×103Ω-cm,分辨率:0.1×10-6~0.01×103Ω-cm)

  方块电阻:50.0×10-6~1.0×106Ω/□,分辨率5.0×10-6~0.5×103Ω/□

     (5.0×10-6~100.0×103Ω/□,分辨率0.5×10-6~0.1×103Ω/□) 

 2.材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定) 

直径:SZT-A圆测试台直接测试方式Φ15~130mm,手持方式不限

SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm,手持方式不限

长(高)度:测试台直接测试方式H≤100mm手持方式不限 

  测量方位轴向、径向均可

3.量程划分及误差等级

满度显示200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 
常规量程kΩ-cm/□kΩ-cm/□Ω-cm/□mΩ-cm/□---
大拓展量程---kΩ-cm/□Ω-cm/□mΩ-cm/□mΩ-cm/□
基本误差±2%FSB
±4LSB
±1.5%FSB
±4LSB
±0.5%FSB±2LSB±0.5%FSB
±4LSB
±1.0%FSB
±4LSB

  4.工作电源220V±10%,f=50Hz±4%,PW≤5W 

  5.外形尺寸:245mm(长)×220mm(宽)×95mm(高)

   净重:≤1.5~2.0kg 


机械规格



装配一览表


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